重庆单分子荧光寿命成像采购

荧光寿命成像 (FLIM)通过建立检测到的荧光事件的直方图来确定寿命。可显示单指数或多指数荧光衰减。数值曲线拟合表示荧光寿命和振幅（即检测到的光子数）。由于FRET减少了供体寿命，因此如果无FRET的供体寿命已知，就可以量化FRET发生的程度。该供体寿命τ作为分析FRET样品的一定参考。因此，FLIM-FRET为内部参照—这一特点减少了基于强度测量FRET时的很多缺点。由于其荧光寿命是染料的固有特性，因此对其他不利影响（如光漂白、图像明暗处理、不同浓度或表达水平）具有普遍的不变性。使用基于强度的FRET测量的主要限制是所有可观察的供体分子都经历FRET的基本假设。通常情况并非如此。供体分子这种变化的“非结合”组分给测量的FRET效率带来了相当大的不确定性，使得无法在实验之间进行比较。荧光寿命成像克服了这一缺点。荧光寿命成像可用于多种生物应用，包括组织表面扫描、组织类型绘图、光动力治理、皮肤成像等。重庆单分子荧光寿命成像采购

荧光寿命成像系统是一种用于化学领域的分析仪器，荧光寿命成像可以在体现荧光物质形貌信息之外，还能够灵敏地反应荧光基团生化特性以及周围微环境的变化情况。将荧光寿命成像与共聚焦成像技术结合起来，实现人体三维荧光寿命成像，进一步实现人体三维功能成像奠定基础，有潜力应用于瘤识别，病变诊断等领域。荧光寿命是荧光基团在通过发射荧光光子返回基态之前在其激发态下保持平均多长时间的量度。不同荧光基团激发态停时间不同，大多数生物荧光素的荧光寿命时间在 0.2 - 20 ns。荧光寿命检测经典方法为点对点的时间相关单光子计数（TCSPC），但由于过去检测硬件的局限和复杂的使用而没有被普遍地应用于科学研究。随着技术的发展，在显微镜视野内进行超快速全像素荧光寿命信号采集的荧光寿命成像成为可能。重庆单分子荧光寿命成像采购荧光寿命成像具有200 nm的空间分辨率和皮秒量级的时间分辨率。

影响荧光寿命成像测量的几种因素：1．温度影响：一般说来，荧光随温度升高而强度减弱，温度升高1℃，荧光强度下降1～10%不等。测定时，温度必须保持恒定。 2．PH值影响：PH 值影响物质的荧光，应选择较佳PH制备样品。 3．光分解对荧光测定的影响： 荧光物质吸收紫外可见光后，发生光化学反应，导致荧光强度下降。因此，荧光分析要采用高灵敏度的检测器，而不是用增强光源来提高灵敏度。测定时，用较窄的激发光部分的狭缝，以减弱激发光。同时，用较宽的发射狭缝引导荧光。荧光分析应尽量在暗环境中进行。

荧光寿命成像显微技术已在生命科学，临床荧光寿命领域中得到了普遍的应用。成像，扩散光学层析成像，荧光相关光谱等等。使用我们专有的多维时间相关单光子计数技术（TCSPC），我们的FLIM和TCSPC系统具有超高光子效率的特点。因此，科学家，医生，研究人员和其他用户能够进行TCSPC FLIM显微镜检查，多波长FLIM，同时FLIM和快速获取FLIM。生命科学是我们荧光寿命成像显微（FLIM）设备的主要应用领域。我们的技术经常用于以下领域：分子影像学、代谢成像、FRET成像、同时进行NAD(P)H和pO2成像。荧光寿命成像系统是一种用于化学领域的分析仪器。

荧光寿命是荧光团在发射荧光光子返回基态之前保持其激发态的平均时间长度。这取决于荧光团的分子组成和纳米环境。荧光寿命成像将寿命测量与成像相结合：对每个图像像素以测得的荧光寿命进行颜色编码，产生额外的图像反差。因此，荧光寿命成像可以提供关于荧光分子空间分布的信息和有关其生化状态或纳米环境的信息。有很多技术可以在显微镜环境中检测荧光寿命。常见的的是基于供体（受体光漂白，FRET AB）或受体（敏化发射，FRET SE）荧光强度的技术。荧光寿命是微环境的相对参数，不受环境吸收、样本浓度等因素影响。重庆单分子荧光寿命成像采购

荧光寿命成像不受光漂白的影响。重庆单分子荧光寿命成像采购

与荧光光谱一样，荧光寿命也是荧光物质的一种内在特有性质，不受荧光物质浓度、激发光强度等因素的影响。荧光寿命成像能在不受荧光强度影响因素影响的条件下，在纳米分辨率水平对蛋白互作进行研究，或者通过 FRET 探针研究分子环境变化，更重要的是其测量数据准确性高、易重复。通过荧光寿命成像还可以对样本所处的微环境进行检测、对样品组份进行分离等等。在传统的荧光强度和荧光光谱两个维度的基础上，又增加了荧光寿命这一新的成像维度，大幅度拓展了该系统的应用范围。重庆单分子荧光寿命成像采购

上海波铭科学仪器有限公司致力于仪器仪表，是一家贸易型的公司。公司自成立以来，以质量为发展，让匠心弥散在每个细节，公司旗下拉曼光谱仪，电动位移台，激光器，光电探测器深受客户的喜爱。公司将不断增强企业重点竞争力，努力学习行业知识，遵守行业规范，植根于仪器仪表行业的发展。波铭科仪立足于全国市场，依托强大的研发实力，融合前沿的技术理念，及时响应客户的需求。